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全部作者：张红黄其煜韩兴成第1作者单位：上海交通大学微电子学院论文摘要：本文将结合器件本身固有的`特点（在0.18EE工艺平台上），通过研究可靠性失效相关的参数，找到与设计相关联的因素，并围绕这些因素进行设计的优化和改良。本...